Structure evolution of amorphous Ti-Zr-Ni films caused by annealing - Shipkova, I. G.; Malykhin, S. V.; Surovitskiy, S. V.; Kopylets, I. A.; Zhelunitsina, K. A. (Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2019)
Keywords: annealing; structure evolution; X-ray; x-ray amorphous; X-ray diffraction