Шумилова, Э. Д.Шумилов, Ю. Н.2015-04-062015-04-062014Шумилова Э. Д. Механизм разрушения плёночной изоляции при криогенных температурах / Э. Д. Шумилова, Ю. Н. Шумилов // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Энергетика: надежность и энергоэффективность. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2014. – № 56 (1098). – С. 131-137.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/13977Работа посвящена изучению электрической прочности и закономерностям разрушения многослойной полимерной плёночной изоляции МПИ в среде криогенных жидкостей при напряжённости электрического поля близких к рабочим. Показано, что основным разрушающим фактором МПИ являются частичные разряды ЧР в полостях, заполненных криогенной жидкостью. Воздействие ЧР в зависимости от материала приводит к растрескиванию плёнок, либо к образованию на поверхности науглероженных проводящих побегов. Даны рекомендации по выбору МПИ для криогенных устройств.The work is devoted to the study of electric strength and patterns of deterioration of laminated polymeric film isolation LPI in the environment of cryogenic liquids under electric field strength close to work. It is shown that the main destructive factor LPI are partial discharge PD in cavities filled with a cryogenic liquid. The impact of the PD, depending on the material, leads to cracking of the films or to the formation on the surface of the carburized conductive shoots. Recommendations on the choice of the LPI for cryogenic devices are given.ruкриогенные жидкостиэлектрическая прочностьчастичные разрядыcryogenic liquiddielectric strengthpartial dischargeArticle