Пупань, Лариса Ивановна2014-04-142014-04-142011Методические указания к выполнению практической работы "Методы сканирующей зондовой микроскопии" : по курсам "Введение в нанотехнологии", "Технологии и техника наноуровня", "Наноматериалы и нанотехнологии" : для студ. машиностроит. спец. дневной и заочной форм обуч. / сост. Л. И. Пупань ; Нац. техн. ун-т "Харьков. политехн. ин-т". – Харьков : НТУ "ХПИ", 2011. – 21 с.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/5478ruтуннельный микроскопнаноматериалыатомный силовой микроскопмагнитный силовой микроскопэлектростатический силовой микроскопсканирующий фрикционный микроскопигла-зондатомно-силовая микроскопияLearning Object