Копач, Володимир РомановичХрипунов, Геннадій СеменовичКіріченко, Михайло ВалерійовичЗайцев, Роман Валентинович2014-03-192014-03-192009Методичні вказівки до лабораторних робіт "Визначення питомого електричного опору однорідних напівпровідників і тонких напівпровідникових шарів" з розділу "Контактні та безконтактні методи визначення питомого електричного опору напівпровідників" дисципліни "Фізичні методи дослідження матеріалів" : для студ. напряму підготовки 6.050801 "Мікро- та наноелектроніка" / уклад. В. Р. Копач, Г. С. Хрипунов, М. В. Кіріченко, Р. В. Зайцев. – Харків : НТУ "ХПІ", 2009. – 48 с.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/4895Методичні вказівки до лабораторних робіт з розділу "Контактні та безконтактні методи визначення питомого електричного опору напівпровідників" дисципліни "Фізичні методи дослідження матеріалів" стосуються двох лабораторних робіт: "Визначення питомого електричного опору однорідних напівпровідників за їхнім повним електричним опором" і "Визначення питомого електричного опору однорідних тонких напівпровідникових шарів чотиризондовим методом"ukпитомий електричний опірнапівпровідникиметод амперметра-вольтметраструмсистема зондівLearning Object