High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range - Mikhailov, I. F.; Baturin, A. A.; Bugaev, Ye. A.; Mikhailov, A. I.; Borisova, S. S. (Scientific and Technological Corporation "Institute for Single Crystals", 2013)
Исследованы высокостабильные эталоны масс, полученные методом магнетронного осаждения сверхгладких слоев металлов на монокристаллические подложки. Тонкопленочные эталоны отвечают требованиям, предъявляемым ГОСТ 8.315-97 к государственным стандартным образцам: однородны, стабильны во времени и допускают аттестацию несколькими независимыми методами. Обеспечена точность измерений массы в диапазоне от 1 до 17 нг не хуже 1 нг, а в диапазоне от 17 до 3800 нг не хуже 8 нг.
Высокостабильные стандартные образцы массы в нанограммном диапазоне