Mikhailov, I. F.Baturin, A. A.Bugaev, Ye. A.Mikhailov, A. I.Borisova, S. S.2015-06-222015-06-222013High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range / I. F. Mikhailov [et al.] // Functional Materials. – 2013. – Vol. 20, № 2. – p. 266-271.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/15460Исследованы высокостабильные эталоны масс, полученные методом магнетронного осаждения сверхгладких слоев металлов на монокристаллические подложки. Тонкопленочные эталоны отвечают требованиям, предъявляемым ГОСТ 8.315-97 к государственным стандартным образцам: однородны, стабильны во времени и допускают аттестацию несколькими независимыми методами. Обеспечена точность измерений массы в диапазоне от 1 до 17 нг не хуже 1 нг, а в диапазоне от 17 до 3800 нг не хуже 8 нг.enArticle