Shipkova, I. G.Chumak, V. S.Reshetnyak, M. V.Devizenko, A. Y.Pershyn, Yuriy P.2017-03-282017-03-282016Estimation of interlayer composition in WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) at nanometer scale / I. G. Shipkova [et al.] // Тези доп. 24-ї Міжнар. наук.-практ. конф. "Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я" (MicroCAD–2016), 18-20 травня 2016 р. / ред. Є. І. Сокол. – Харків : НТУ "ХПІ", 2016. – Ч. 2. – С. 45.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/28180eninterlayer thicknesstransmission electron microscopyTEMdiffraction methodsamorphous structuretungsten carbideThesis