Тесленко, А. А.2017-04-262017-04-262010Тесленко А. А. Применение метода конечных фотоупругих элементов к исследованию остаточных напряжений в монокристаллических пластинах, облученных ИК-лазером / А. А. Тесленко // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Темат. вип. : Динаміка і міцність машин. – Харків : НТУ "ХПІ", 2010. – № 69. – С. 142-146.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/28974В работе рассматривается применение метода конечных фотоупругих элементов к исследованию остаточного напряжения в кристаллах, облученных ИК-лазером. Определены остаточные напряжения и ошибка в их значениях. Доказано, что в предположении двумерных напряжений величина ошибки допустима, а сам метод определения корректен.Application of photoelasticity finite elements method is investigated for research of residual stresses in the crystals that radiation-exposed infra-red laser. Residual stresses and mistakes are obtained. In supposition of two-dimensional stresses, the error is small, and the method is correct.ruмоделирование имитационноеметод конечных элементовкоэффициенты пьезооптическиеArticle