Аналіз методів попередньої обробки малоконтрастних зображень, отриманих за допомогою електронно-оптичних засобів дефектоскопії - Панасенко, Д. П.; Смолін, Юрій Олександрович; Крикун, В. Р. (Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2018)
Keywords: малоконтрасні дефекти; тріщини; відколи; вм'ятини