Дубийчук, О. Ю.Рудаков, Валерий Васильевич2015-05-262015-05-262006Дубийчук О. Ю. Экспериментальное определение показателей надежности секций конденсаторов с бумажно-касторовой изоляцией / О. Ю. Дубийчук, В. В. Рудаков // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2006. – № 1. – С. 71-75.https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/14976Приведены результаты ресурсных испытаний секций высоковольтных импульсных конденсаторов с бумажно-касторовым диэлектриком. Определены зависимости среднего ресурса и среднего квадратического отклонения для нормально–логарифмического распределения отказов от толщины диэлектрика.Results of longevity testing of high-voltage impulse capacitor sections with paper-castor dielectric are given. Mean life and standard deviation for normal logarithmic failure distribution are found as function of the dielectric thickness.ruвысоковольтные импульсные конденсаторывысоковольтная импульсная техникаизоляциядиэлектрикиhigh-voltage impulse capacitorpaper-castor dielectriclongevity testreliability indicesArticle