Estimation of interlayer composition in WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) at nanometer scale
Вантажиться...
Дата
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТУ "ХПІ"
Анотація
Опис
Бібліографічний опис
Estimation of interlayer composition in WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) at nanometer scale / I. G. Shipkova [et al.] // Тези доп. 24-ї Міжнар. наук.-практ. конф. "Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я" (MicroCAD–2016), 18-20 травня 2016 р. / ред. Є. І. Сокол. – Харків : НТУ "ХПІ", 2016. – Ч. 2. – С. 45.