Estimation of interlayer composition in WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) at nanometer scale
Дата
2016
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТУ "ХПІ"
Анотація
Опис
Ключові слова
interlayer thickness, transmission electron microscopy, TEM, diffraction methods, amorphous structure, tungsten carbide
Бібліографічний опис
Estimation of interlayer composition in WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) at nanometer scale / I. G. Shipkova [et al.] // Тези доп. 24-ї Міжнар. наук.-практ. конф. "Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я" (MicroCAD–2016), 18-20 травня 2016 р. / ред. Є. І. Сокол. – Харків : НТУ "ХПІ", 2016. – Ч. 2. – С. 45.