Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/52203
Title: Вплив температури підкладки на знак носіїв заряду у плівках PbTe
Other Titles: Eeffect of the substrate temperature on the charge carriers sign in PbTe thin films
Authors: Любченко, С.
Рогачова, Олена Іванівна
Keywords: телурид свинцю; тонкі плівки; стехіометрія; окиснення; коефіцієнт термо-електронно-рушійної сили; lead telluride; stoichiometry; oxidation; substrate temperature; thermoelectric power
Issue Date: 2006
Publisher: Львівський національний університет ім. Івана Франка
Citation: Любченко С. Вплив температури підкладки на знак носіїв заряду у плівках PbTe / С. Любченко, О. Рогачова // Вісник Львівського університету. Серія фізична = Visnyk of the Lviv University. Series Physics : зб. наук. пр. – Львів : ЛНУ, 2006. – Вип. 39. – С. 122-126.
Abstract: При кімнатній температурі досліджено залежність коефіцієнта термо-електронно-рушійної сили (термо-е.р.с.) від товщини тонких плівок PbTe (d = 10-450 нм), які були виготовлені методом термічного випаровування у вакуумі на підкладки зі слюди при температурах 380 та 530 К. Досліджувались плівки з покриттям для захисту від окиснення і без захисного покриття. Отримані товщинні залежності проаналізовано із урахуванням впливу різних чинників, що визначають тип провідності, який простежено у тонких плівках PbTe – зміна стехіометрії тонкої плівки при зміні температури підкладки, процеси окиснення, зміна складу шихти в процесі випаровування.
Room-temperature dependences of the thermoelectric power on the thickness (d = 10-450 nm) of PbTe thin films prepared by the thermal evaporation in vacuum of ntype crystal PbTe on the mica substrates at the temperatures of 380 and 530 К were investigated. The films with and without protected covering were studied. Obtained thickness dependences were analyzed taking into account the different factors which determined the conductivity type in PbTe thin films – change of the thin film stoichiometry under change of the substrate temperature, the oxidation processes, change of the charge composition during evaporation.
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/52203
Appears in Collections:Кафедра "Фізика"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
visnyk_LU_2006_39_Liubchenko_Vplyv_temperatury.pdf274,02 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.