Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/53807
Title: Методи дослідження структури тонких плівок
Authors: Зайцев, Роман Валентинович
Кіріченко, Михайло Валерійович
Зайцева, Лілія Василівна
Хрипунов, Генадій Семенович
Дроздов, Антон Миколайович
Дроздова, Ганна Анатоліївна
Keywords: підручник; електронографічні методи; електронограми; монокристали; подвійна дифракція; інтенсивність розсіювання; крокові електродвигуни; медіанна фільтрація; електросилова мікроскопія
Issue Date: 2021
Publisher: ФОП Бровін О. В.
Citation: Методи дослідження структури тонких плівок : підручник / Р. В. Зайцев [та ін.] ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т". – Харків : Бровін О. В., 2021. – 320 с.
Abstract: Книга являє собою підручник для студентів старших курсів вищих навчальних закладів, присвячений найсучаснішим методам дослідження поверхні твердого тіла - скануючій електронній та зондовій мікроскопії. У підручнику представлена сучасна наукова інформація про можливості атомно-силової та електронної скануючої мікроскопії. Наведено характерні особливості методик атомно-силової мікроскопії, які дозволяють отримувати додаткову інформацію про властивості досліджуваних об'єктів. Розглянуто принцип роботи електронного скануючого мікроскопа і приклади реалізації різних методик для дослідження мікроскопічних об'єктів. Продемонстровані методичні прийоми усунення спотворень одержуваних зображень.
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/53807
ISBN: 978-617-8009-16-8
Appears in Collections:Кафедра "Фізичне матеріалознавство для електроніки та геліоенергетики"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Book_2021_Zaitsev_Metody_doslidzhennia.pdf6,56 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.