Публікація: Методи дослідження структури тонких плівок
Вантажиться...
Дата
ORCID
DOI
Назва видання
ISSN
Назва тому
Видання
ФОП Бровін О. В.
Анотація
Книга являє собою підручник для студентів старших курсів вищих навчальних закладів, присвячений найсучаснішим методам дослідження поверхні твердого тіла - скануючій електронній та зондовій мікроскопії. У підручнику представлена сучасна наукова інформація про можливості атомно-силової та електронної скануючої мікроскопії. Наведено характерні особливості методик атомно-силової мікроскопії, які дозволяють отримувати додаткову інформацію про властивості досліджуваних об'єктів. Розглянуто принцип роботи електронного скануючого мікроскопа і приклади реалізації різних методик для дослідження мікроскопічних об'єктів. Продемонстровані методичні прийоми усунення спотворень одержуваних зображень.
Опис
Ключові слова
підручник, електронографічні методи, електронограми, монокристали, подвійна дифракція, інтенсивність розсіювання, крокові електродвигуни, медіанна фільтрація, електросилова мікроскопія
Бібліографічний опис
Методи дослідження структури тонких плівок : підручник / Р. В. Зайцев [та ін.] ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т". – Харків : Бровін О. В., 2021. – 320 с.