Influence of the parallelepiped form localized defects on ellipsometry data: scale modeling
Дата
2021
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Institute of Nuclear Physics
Анотація
Ця стаття присвячена проблемі аналізу еліпсометричних даних поверхні з локалізованими дефектами (різні фази, пухирі, зерна тощо).
This paper is devoted to the problem of the analysis of ellipsometric data of the surface with localized defects (di erent phases, blistering, grains etc.).
This paper is devoted to the problem of the analysis of ellipsometric data of the surface with localized defects (di erent phases, blistering, grains etc.).
Опис
Ключові слова
ellipsometric data, ellipsometric experiment, radiation stability, еліпсометричні дані поверхні, еліпсометричний експеримент., радіаційна стійкість зміцненого сплаву CuCrZr
Бібліографічний опис
Galuza A. A. Influence of the parallelepiped form localized defects on ellipsometry data: scale modeling / A. Galuza, I. Kolenov, A. Savchenko // Multiscale Phenomena in Condensed Matter : Abstracts of the Online conference for young researchers (YOUNG MULTIS 2021), Kraków, 5–7 July 2021. – P. 120.