Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/56595
Title: Influence of the parallelepiped form localized defects on ellipsometry data: scale modeling
Authors: Galuza, A. A.
Kolenov, I.
Savchenko, Alla Aleksandrovna
Keywords: ellipsometric data; ellipsometric experiment; radiation stability; еліпсометричні дані поверхні; еліпсометричний експеримент.; радіаційна стійкість зміцненого сплаву CuCrZr
Issue Date: 2021
Publisher: Institute of Nuclear Physics
Citation: Galuza A. A. Influence of the parallelepiped form localized defects on ellipsometry data: scale modeling / A. Galuza, I. Kolenov, A. Savchenko // Multiscale Phenomena in Condensed Matter : Abstracts of the Online conference for young researchers (YOUNG MULTIS 2021), Kraków, 5–7 July 2021. – P. 120.
Abstract: Ця стаття присвячена проблемі аналізу еліпсометричних даних поверхні з локалізованими дефектами (різні фази, пухирі, зерна тощо).
This paper is devoted to the problem of the analysis of ellipsometric data of the surface with localized defects (di erent phases, blistering, grains etc.).
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/56595
Appears in Collections:Кафедра "Комп'ютерна математика і аналіз даних"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Galuza_Influence_of_the_parallelepiped_2021.pdf120,78 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.