Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57477
Title: The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
Other Titles: Методика рентгенодифрактометричного дослідження субструктури ікосаедричних квазікристалів
Authors: Bazdyreva, S. V.
Fedchuk, N. V.
Malykhin, S. V.
Pugachov, A. T.
Reshetnyak, M. V.
Zubarev, E. N.
Keywords: methodology for X-ray diffraction investigation; icosahedral quasicrystals; ікосаедричні квазікристали; кількісна оцінка параметрів субструктури ікосаедричних квазікристалів; специфічні фазонні дефекти; аналіз ширини дифракційних ліній; рентгенівські дифракції
Issue Date: 2013
Publisher: STC "Institute for Single Crystals"
Citation: The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure / S. V. Bazdyreva [et al.] // Functional Materials. – 2013. – V. 20, № 1. – P. 81-85.
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57477
Appears in Collections:Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
FM_2013_20_1_ Bazdyreva_The_methodology.pdf488,63 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.