The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
Ескіз недоступний
Дата
2013
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Установа захисту
Рада захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Видавець
STC "Institute for Single Crystals"
Анотація
Опис
Ключові слова
methodology for X-ray diffraction investigation, icosahedral quasicrystals, ікосаедричні квазікристали, кількісна оцінка параметрів субструктури ікосаедричних квазікристалів, специфічні фазонні дефекти, аналіз ширини дифракційних ліній, рентгенівські дифракції
Бібліографічний опис
The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure / S. V. Bazdyreva [et al.] // Functional Materials. – 2013. – V. 20, № 1. – P. 81-85.