Please use this identifier to cite or link to this item:
http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57477| Title: | The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure |
| Other Titles: | Методика рентгенодифрактометричного дослідження субструктури ікосаедричних квазікристалів |
| Authors: | Bazdyreva, S. V. Fedchuk, N. V. Malykhin, S. V. Pugachov, A. T. Reshetnyak, M. V. Zubarev, Evgeniy N. |
| Keywords: | methodology for X-ray diffraction investigation; icosahedral quasicrystals; ікосаедричні квазікристали; кількісна оцінка параметрів субструктури ікосаедричних квазікристалів; специфічні фазонні дефекти; аналіз ширини дифракційних ліній; рентгенівські дифракції |
| Issue Date: | 2013 |
| Publisher: | STC "Institute for Single Crystals" |
| Citation: | The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure / S. V. Bazdyreva [et al.] // Functional Materials. – 2013. – V. 20, № 1. – P. 81-85. |
| URI: | http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57477 |
| Appears in Collections: | Кафедра "Фізика металів і напівпровідників" |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| FM_2013_20_1_ Bazdyreva_The_methodology.pdf | 488,63 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.