Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57477
Название: The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
Другие названия: Методика рентгенодифрактометричного дослідження субструктури ікосаедричних квазікристалів
Авторы: Bazdyreva, S. V.
Fedchuk, N. V.
Malykhin, S. V.
Pugachov, A. T.
Reshetnyak, M. V.
Zubarev, Evgeniy N.
Ключевые слова: methodology for X-ray diffraction investigation; icosahedral quasicrystals; ікосаедричні квазікристали; кількісна оцінка параметрів субструктури ікосаедричних квазікристалів; специфічні фазонні дефекти; аналіз ширини дифракційних ліній; рентгенівські дифракції
Дата публикации: 2013
Издательство: STC "Institute for Single Crystals"
Библиографическое описание: The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure / S. V. Bazdyreva [et al.] // Functional Materials. – 2013. – V. 20, № 1. – P. 81-85.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57477
Располагается в коллекциях:Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
FM_2013_20_1_ Bazdyreva_The_methodology.pdf488,63 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики  Google Scholar



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.