The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
Дата
2013
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
STC "Institute for Single Crystals"
Анотація
Опис
Ключові слова
methodology for X-ray diffraction investigation, icosahedral quasicrystals, ікосаедричні квазікристали, кількісна оцінка параметрів субструктури ікосаедричних квазікристалів, специфічні фазонні дефекти, аналіз ширини дифракційних ліній, рентгенівські дифракції
Бібліографічний опис
The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure / S. V. Bazdyreva [et al.] // Functional Materials. – 2013. – V. 20, № 1. – P. 81-85.