Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57477
Назва: The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
Інші назви: Методика рентгенодифрактометричного дослідження субструктури ікосаедричних квазікристалів
Автори: Bazdyreva, S. V.
Fedchuk, N. V.
Malykhin, S. V.
Pugachov, A. T.
Reshetnyak, M. V.
Zubarev, Evgeniy N.
Ключові слова: methodology for X-ray diffraction investigation; icosahedral quasicrystals; ікосаедричні квазікристали; кількісна оцінка параметрів субструктури ікосаедричних квазікристалів; специфічні фазонні дефекти; аналіз ширини дифракційних ліній; рентгенівські дифракції
Дата публікації: 2013
Видавництво: STC "Institute for Single Crystals"
Бібліографічний опис: The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure / S. V. Bazdyreva [et al.] // Functional Materials. – 2013. – V. 20, № 1. – P. 81-85.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57477
Розташовується у зібраннях:Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
FM_2013_20_1_ Bazdyreva_The_methodology.pdf488,63 kBAdobe PDFВідкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики  Google Scholar



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.