Please use this identifier to cite or link to this item:
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorBazdyreva, S. V.en
dc.contributor.authorFedchuk, N. V.en
dc.contributor.authorMalykhin, S. V.en
dc.contributor.authorPugachov, A. T.en
dc.contributor.authorReshetnyak, M. V.en
dc.contributor.authorZubarev, Evgeniy N.en
dc.identifier.citationThe methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure / S. V. Bazdyreva [et al.] // Functional Materials. – 2013. – V. 20, № 1. – P. 81-85.en
dc.publisherSTC "Institute for Single Crystals"en
dc.subjectmethodology for X-ray diffraction investigationen
dc.subjecticosahedral quasicrystalsen
dc.subjectікосаедричні квазікристалиuk
dc.subjectкількісна оцінка параметрів субструктури ікосаедричних квазікристалівuk
dc.subjectспецифічні фазонні дефектиuk
dc.subjectаналіз ширини дифракційних лінійuk
dc.subjectрентгенівські дифракціїuk
dc.titleThe methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructureen
dc.title.alternativeМетодика рентгенодифрактометричного дослідження субструктури ікосаедричних квазікристалівuk
Appears in Collections:Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
FM_2013_20_1_ Bazdyreva_The_methodology.pdf488,63 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record  Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.