The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
Вантажиться...
Дата
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
STC "Institute for Single Crystals"
Анотація
Опис
Ключові слова
methodology for X-ray diffraction investigation, icosahedral quasicrystals, ікосаедричні квазікристали, кількісна оцінка параметрів субструктури ікосаедричних квазікристалів, специфічні фазонні дефекти, аналіз ширини дифракційних ліній, рентгенівські дифракції
Бібліографічний опис
The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure / S. V. Bazdyreva [et al.] // Functional Materials. – 2013. – V. 20, № 1. – P. 81-85.