1. eNTUKhPIIR
  2. Кафедри
  3. Кафедра "Мікро- та наноелектроніка"
Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/58036
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКириченко, Михаил Валерьевичru
dc.contributor.authorЗайцев, Роман Валентиновичru
dc.contributor.authorПрокопенко, Дмитрий Сергеевичru
dc.date.accessioned2022-09-17T10:37:23Z-
dc.date.available2022-09-17T10:37:23Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationКириченко М. В. Измерительный комплекс для контроля параметров фотоэлектрических модулей промышленного производства / М. В. Кириченко, Р. В. Зайцев, Д. С. Прокопенко // Фізика, електроніка, електротехніка : матеріали та прогр. наук.-техн. конф., 18-22 квітня 2016 р. – Суми : СумДУ, 2016. – С. 158.ru
dc.identifier.urihttp://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/58036-
dc.language.isoru-
dc.publisherСумський державний університетuk
dc.subjectнапряжениеru
dc.subjectэлектрическая энергияru
dc.subjectмощность излученияru
dc.subjectфотовспышкиru
dc.subjectтранзисторыru
dc.titleИзмерительный комплекс для контроля параметров фотоэлектрических модулей промышленного производстваru
dc.typeThesisen
dc.identifier.orcidorcid.org/0000-0003-2286-8452-
Appears in Collections:Кафедра "Мікро- та наноелектроніка"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kirichenko_Izmeritelnyiy_kompleks_2016.pdf266,04 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.