Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/58119
Title: Разработка системы автоматизации измерений параметров полупроводниковых приборов
Other Titles: The development of the semiconductor devices parameters automation measurement system
Authors: Зайцев, Роман Валентинович
Кириченко, Михаил Валерьевич
Keywords: вольт-амперные характеристики; электрическая энергия; напряжение; микроконтроллеры; фотоэлектрические преобразователи; semiconductor device; current-voltage characteristic; measurement automatization; microcontroller
Issue Date: 2015
Publisher: Чернігівський національний технологічний університет
Citation: Зайцев Р. В. Разработка системы автоматизации измерений параметров полупроводниковых приборов / Р. В. Зайцев, М. В. Кириченко // Вісник Чернігівського державного технологічного університету. Сер. : Технічні науки. – Чернігів : ЧДТУ, 2015. – № 2 (78). – С. 181-187.
Abstract: Основным методом определения параметров полупроводниковых приборов является метод измерения и аналитической обработки их вольтамперных характеристик (ВАХ). Существующие на сегодняшний день измерительные комплексы для реализации этого метода представляют собой дорогие и сложные системы, которые экономически не выгодно использовать в условиях отечественного производства. В работе разработан экономичный автоматизированный измерительный комплекс ВАХ на основе микроконтроллерной системы управления с соответствующим программным обеспечением, позволяющий в связке с компьютером проводить экспрессную аттестацию фотоэлектрических преобразователей и полупроводниковых приборов по их вольтамперным характеристикам. Апробация комплекса показала его способность проводить измерения ВАХ с достаточно высокой точностью при средней погрешности измерения не больше 1 %.
The basic method of semiconductor devices parameters determination is current-voltage characteristics (CVC) measurement and analytical processing. The existing measurement systems for realization of this method are expensive and complex systems that are not economically profitable in terms of Ukrainian production. In this paper we developed a costeffective automated CVC measurement system, based on microcontroller control system with corresponding software that allows in conjunction with a computer to carry out the express certification of solar cells and semiconductor devices by their current-voltage characteristics. Approbation of the complex showed its ability to measure the CVC with high accuracy at an average measurement error is not more than 1%.
ORCID: orcid.org/0000-0003-2286-8452
orcid.org/0000-0002-4847-506X
URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/58119
Appears in Collections:Кафедра "Мікро- та наноелектроніка"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
visnyk_ChDTU_2015_2_Zaytsev_Razrabotka.pdf1,52 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record  Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.