Экспериментальное определение показателей надежности секций конденсаторов с бумажно-касторовой изоляцией

Abstract

Приведены результаты ресурсных испытаний секций высоковольтных импульсных конденсаторов с бумажно-касторовым диэлектриком. Определены зависимости среднего ресурса и среднего квадратического отклонения для нормально–логарифмического распределения отказов от толщины диэлектрика.Results of longevity testing of high-voltage impulse capacitor sections with paper-castor dielectric are given. Mean life and standard deviation for normal logarithmic failure distribution are found as function of the dielectric thickness.