Экспериментальное определение показателей надежности секций конденсаторов с бумажно-касторовой изоляцией
Дата
2006
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТУ "ХПИ"
Анотація
Приведены результаты ресурсных испытаний секций высоковольтных импульсных конденсаторов с бумажно-касторовым диэлектриком. Определены зависимости среднего ресурса и среднего квадратического отклонения для нормально–логарифмического распределения отказов от толщины диэлектрика.
Results of longevity testing of high-voltage impulse capacitor sections with paper-castor dielectric are given. Mean life and standard deviation for normal logarithmic failure distribution are found as function of the dielectric thickness.
Results of longevity testing of high-voltage impulse capacitor sections with paper-castor dielectric are given. Mean life and standard deviation for normal logarithmic failure distribution are found as function of the dielectric thickness.
Опис
Ключові слова
высоковольтные импульсные конденсаторы, высоковольтная импульсная техника, изоляция, диэлектрики, high-voltage impulse capacitor, paper-castor dielectric, longevity test, reliability indices
Бібліографічний опис
Дубийчук О. Ю. Экспериментальное определение показателей надежности секций конденсаторов с бумажно-касторовой изоляцией / О. Ю. Дубийчук, В. В. Рудаков // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2006. – № 1. – С. 71-75.