Архітектура системи діагностики залишкового ресурсу і якості електричної ізоляції промислових електротехнічних споруд на базі теслівських кіл

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorМирошниченко, Л. М.uk
dc.contributor.authorОвчиннікова, Л. Є.uk
dc.contributor.authorГолобородько, А. М.uk
dc.contributor.authorКозирєв, Сергій Сергійовичuk
dc.date.accessioned2018-03-26T09:51:52Z
dc.date.available2018-03-26T09:51:52Z
dc.date.issued2007
dc.description.abstractПроведено аналіз факторів, що впливають на стан електричної ізоляції електротехнічних об’єктів; розроблено архітектуру системи діагностики залишкового та якості електричної ізоляції промислових об'єктів на базі теслівських кіл.uk
dc.description.abstractThe architecture and algorithm of diagnostic system were developed. System analyzes remaining life and quality of electric isolation of industrial electrotechnical installations. Diagnostic system is based on Tesla’s circuits.en
dc.identifier.citationАрхітектура системи діагностики залишкового ресурсу і якості електричної ізоляції промислових електротехнічних споруд на базі теслівських кіл / Л. М. Мирошниченко [та ін.] // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Техника и электрофизика высоких напряжений. – Харьков : НТУ "ХПИ", 2007. – № 20. – С. 121-128.uk
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/35309
dc.language.isouk
dc.publisherНТУ "ХПІ"uk
dc.subjectелектромережіuk
dc.subjectзношеністьuk
dc.subjectенергообладнанняuk
dc.subjectелектрична ізоляціяuk
dc.subjectнеруйнівний контрольuk
dc.titleАрхітектура системи діагностики залишкового ресурсу і якості електричної ізоляції промислових електротехнічних споруд на базі теслівських кілuk
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_KhPI_2007_20_Myroshnychenko_Arhitektura_systemy.pdf
Розмір:
280.34 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.21 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Вісник № 20