Перегляд за Автор "Devizenko, A. Y."
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Результатів на сторінці
Налаштування сортування
Документ Estimation of interlayer composition in WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) at nanometer scale(НТУ "ХПІ", 2016) Shipkova, I. G.; Chumak, V. S.; Reshetnyak, M. V.; Devizenko, A. Y.; Pershyn, Yuriy P.