2006
Постійне посилання на розділhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/2753
Переглянути
3 результатів
Результати пошуку
Документ Особенности конструирования высоковольтных импульсных конденсаторов с последовательным соединением секций(НТУ "ХПИ", 2006) Рудаков, Валерий Васильевич; Дубийчук, Олег Юрьевич; Кравченко, Юрий Владимирович; Еремеева, Екатерина Петровна; Кравченко, Владимир Петрович; Крамчанин, Евгений Геннадиевич; Лысенко, Виталия ОлеговнаПоказано, что при разработке высоковольтных импульсных конденсаторов с последовательным соединением плоскомотаных секций необходимо учитывать различную степень прессования секций по толщине пакета секций и толщину обкладок секций. Приведены конструкции конденсаторов с увеличенной толщиной диэлектрика между обкладками.Документ Затухание поверхностных колебаний полупроводниковых структур электрорадиоизделий в условиях воздействия стороннего электромагнитного излучения(НТУ "ХПИ", 2006) Кравченко, Владимир Иванович; Яковенко, Игорь Владимирович; Лосев, Федор ВладимировичПоказано что воздействие импульсного электромагнитного излучения на электрорадиоизделия часто сопровождаются возникновением токов в проводящих элементах изделий и образованием их внутренних полей. Определены механизмы взаимодействия заряженных частиц и собственных колебаний комплектующих электрорадиоизделия, приводящие к затуханию поверхностных колебаний в полупроводниковых структурах.Документ Кинетические механизмы взаимодействия поверхностных колебаний с электронами проводимости полупроводниковых структур в условиях воздействия стороннего электромагнитного излучения(НТУ "ХПИ", 2006) Кравченко, Владимир Иванович; Яковенко, Игорь Владимирович; Лосев, Федор ВладимировичПоказано, что действие импульсного электромагнитного излучения (ЭМИ) на электроизделия часто сопровождается возникновением токов в проводящих элементах ЭРВ и образованием их внутренних полей. Определены механизмы возникновения неустойчивостей собственных колебаний полупроводниковых надграт, обусловленных их взаимодействием с потоками заряженных частиц в условиях действия постороннего ЭМИ.