Вісники НТУ "ХПІ"

Постійне посилання на розділhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/2494


З 1961 р. у ХПІ видається збірник наукових праць "Вісник Харківського політехнічного інституту".
Згідно до наказу ректора № 158-1 від 07.05.2001 року "Про упорядкування видання вісника НТУ "ХПІ", збірник був перейменований у Вісник Національного Технічного Університету "ХПІ".
Вісник Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут" включено до переліку спеціалізованих видань ВАК України і виходить по серіях, що відображають наукові напрямки діяльності вчених університету та потенційних здобувачів вчених ступенів та звань.
Зараз налічується 30 діючих тематичних редколегій. Вісник друкує статті як співробітників НТУ "ХПІ", так і статті авторів інших наукових закладів України та зарубіжжя, які представлені у даному розділі.

Переглянути

Фільтри

2004 - 20072

Налаштування

Автор: search.filters.author.Гладких, Т. В.Ключові слова: search.filters.subject.сигнал

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 2 з 2
  • Ескіз
    Документ
    Верификация рисков сбоя в цифровых устройствах на основе K-значного моделирования
    (НТУ "ХПИ", 2007) Дмитриенко, Валерий Дмитриевич; Леонов, Сергей Юрьевич; Гладких, Т. В.
    У статті показано застосування нової системи верифікації цифрових пристроїв на основі K-значного моделювання. За допомогою цієї системи є можливість виконувати проектування сучасних складних та швидкодіючих пристроїв з урахуванням кількісних та якісних характеристик ризиків збоїв. Це дає нові перспективи по проектуванню з застосуванням K-значного моделювання.
  • Ескіз
    Документ
    Исследование работы микропроцессора с помощью системы моделирования на основе K-значного дифференциального исчисления
    (НТУ "ХПИ", 2004) Гладких, Т. В.; Леонов, Сергей Юрьевич
    Рассмотрено применение системы автоматизированного проектирования на основе K-значного дифференциального исчисления для выявления ложных ситуаций, связанных с незначительными всплесками и провалами логических сигналов, но способных привести к ошибкам в работе этих устройств и всей вычислительной структуры в целом.