Технологія внутрішньосхемного тестування

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorСмолін, Юрій Олександрович
dc.contributor.authorКононихін, О. Д.
dc.date.accessioned2025-11-27T08:49:13Z
dc.date.issued2025
dc.identifier.citationСмолін Ю. О. Технологія внутрішньосхемного тестування [Електронний ресурс] / Ю. О. Смолін, О. Д. Кононихін // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : тези доп. 33-ї міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD-2025, 14-17 травня 2025 р. / ред. Є. І. Сокол ; уклад. Г. В. Лісачук ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" [та ін.]. – Електрон. текст. дані. – Харків : НТУ "ХПІ", 2025. – С. 650.
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/95675
dc.language.isouk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
dc.subjectвнутрішньосхемне тестування
dc.subjectICT-станції
dc.subjectголчасті адаптери
dc.subjectсхеми друкованих плат
dc.subjectметоди тестування
dc.subjectтестування літаючими щупами
dc.subjectтестування літаючими матрицями
dc.titleТехнологія внутрішньосхемного тестування
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
MicroCAD_2025_Smolin_Tekhnolohiia_vnutrishnoskhemnoho.pdf
Розмір:
497.61 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
2.95 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я. 2025