Повышение чувствительности тепловой дефектоскопии в условиях наличия излучательной помехи

dc.contributor.authorМалик, С. Б.ru
dc.contributor.authorМягкий, А. В.ru
dc.contributor.authorСтороженко, А. В.ru
dc.date.accessioned2017-06-12T11:54:58Z
dc.date.available2017-06-12T11:54:58Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractОтримано оцінку чутливості теплової дефектоскопії (параметри порогових дефектів) для широкого кола материалів, що дозволяє потенціальному споживачеві визначити застосовність даного методу. Запропоновано підхід до оптимізації режиму теплової дефектоскопії, що дозволяє підвищити відношення сигнал/шум, а отже і чутливість методу.uk
dc.description.abstractInfrared testing sensitivity estimation (threshold detectable defect characteristics) for a wide number of materials is obtained. It allows prospective consumer to appraise this method applicability. Infrared testing procedure optimization approach that allows to raise SNR and therefore method sensitivity is proposed.en
dc.identifier.citationМалик С. Б. Повышение чувствительности тепловой дефектоскопии в условиях наличия излучательной помехи / С. Б. Малик, А. В. Мягкий, А. В. Стороженко // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Электроэнергетика и преобразовательная техника. – Харьков : НТУ "ХПИ", 2009. – № 14. – С. 49-52.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/30028
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectобъект контроляru
dc.subjectтемпературное полеru
dc.subjectвнешний источник теплаru
dc.subjectкоэффициент излученияru
dc.subjectпараметры пороговых дефектовru
dc.titleПовышение чувствительности тепловой дефектоскопии в условиях наличия излучательной помехиru
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_KhPI_2009_14_Malik_Povyshenie.pdf
Розмір:
301.57 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.21 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:

Колекції