Параметри пористості SiO₂-матриць, отриманих золь-гель методом

Abstract

Охарактеризовано структурні параметри зразків SiO₂-матриць, отриманих при температурах 120 °С, 500 °С і 750 °С золь-гель методом. Визначені основні характеристики пористості синтезованих зразків: питома площа поверхні за допомогою моделі ВЕТ та загальний об’єм пор, розміри пор та їх розподіл за розмірами за моделлю BJH. Встановлено, що синтезовані зразки SiO₂-матриць є мезопористими матеріалами з питомою площею поверхні 400-900 м²/г та пористістю 20-55 % та середнім діаметром пор 2-3 нм в залежності від температури отримання.Characterized the structural parameters SiO₂-matrix samples obtained at temperatures of 120 °C, 500 °C and 750 °C by sol-gel method. The main characteristics of the synthesized samples porosity: specific surface area by BET model and total pore volume, pore size and size distribution by BJH model. The synthesized samples SiO₂-matrix are mesoporous materials with the specific surface area of 400-900 m²/g and the porosity of 20-55 % and with an average pore diameter of 2-3 nm depending on the preparation temperature.