Залежність параметрів напівпровідникових приладів від їх розміщення на підкладці

dc.contributor.authorКукурудзяк, М. С.
dc.date.accessioned2023-07-10T09:39:15Z
dc.date.available2023-07-10T09:39:15Z
dc.date.issued2023
dc.identifier.citationКукурудзяк М. С. Залежність параметрів напівпровідникових приладів від їх розміщення на підкладці / М. С. Кукурудзяк // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : тези доп. 31-ї Міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD-2023, 17-20 травня 2023 р. / ред. Є. І. Сокол ; уклад. Г. В. Лісачук. – Харків : НТУ "ХПІ", 2023. – С. 53.
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/67008
dc.language.isouk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
dc.subjectелектронна промисловість
dc.subjectнапівпровідникові вироби
dc.subjectбракування
dc.subjectінтегральні мікросхеми
dc.subjectфотоприймачі
dc.subjectметоди уникнення браку
dc.subjectрозміщення на підкладці
dc.subjectдефектроутворення
dc.subjectрізання підкладок
dc.subjectрозміщення кристалів виробів
dc.titleЗалежність параметрів напівпровідникових приладів від їх розміщення на підкладці
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
MicroCAD_2023_Kukurudziak_Zalezhnist.pdf
Розмір:
366.81 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
11.18 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: