Анализ систематической погрешности рефлектометрических систем для измерения диэлектрических параметров биообъектов

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorФедюшко, Ю. М.ru
dc.contributor.authorЧеренков, А. Д.ru
dc.date.accessioned2015-07-20T11:13:51Z
dc.date.available2015-07-20T11:13:51Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractПроведена оценка и анализ случайных погрешностей рефлектометра.ru
dc.description.abstractThe estimation and analysis of regular errors in a reflectometer are resulted.en
dc.identifier.citationФедюшко Ю. М. Анализ систематической погрешности рефлектометрических систем для измерения диэлектрических параметров биообьектов / Ю. М. Федюшко, А. Д. Черенков // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Проблемы совершенствования электрических машин и аппаратов. Теория и практика. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2009. – № 7. – С. 146-149.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/16102
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectрефлектометрru
dc.subjectдиэлектрические параметрыru
dc.subjectбиообъектыru
dc.subjectимпульсный сигналru
dc.subjectdielectrical parametersen
dc.subjectreflectometeren
dc.titleАнализ систематической погрешности рефлектометрических систем для измерения диэлектрических параметров биообъектовru
dc.title.alternativeAnalysis of regular errors in reflectometrical systems intended for measuring of bioobjects dielectrical parametersen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_HPI_2009_7_Fedyushko_Analiz.pdf
Розмір:
111.17 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Вісник № 07