The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorBazdyreva, S. V.en
dc.contributor.authorFedchuk, N. V.en
dc.contributor.authorMalykhin, S. V.en
dc.contributor.authorPugachov, A. T.en
dc.contributor.authorReshetnyak, M. V.en
dc.contributor.authorZubarev, Evgeniy N.en
dc.date.accessioned2022-06-26T23:51:01Z
dc.date.available2022-06-26T23:51:01Z
dc.date.issued2013
dc.identifier.citationThe methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure / S. V. Bazdyreva [et al.] // Functional Materials. – 2013. – V. 20, № 1. – P. 81-85.en
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/57477
dc.language.isoen
dc.publisherSTC "Institute for Single Crystals"en
dc.subjectmethodology for X-ray diffraction investigationen
dc.subjecticosahedral quasicrystalsen
dc.subjectікосаедричні квазікристалиuk
dc.subjectкількісна оцінка параметрів субструктури ікосаедричних квазікристалівuk
dc.subjectспецифічні фазонні дефектиuk
dc.subjectаналіз ширини дифракційних лінійuk
dc.subjectрентгенівські дифракціїuk
dc.titleThe methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructureen
dc.title.alternativeМетодика рентгенодифрактометричного дослідження субструктури ікосаедричних квазікристалівuk
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
FM_2013_20_1_ Bazdyreva_The_methodology.pdf
Розмір:
488.63 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"