Статистичні проблеми динамічного контролю при неруйнівних випробуваннях високою напругою на прохід

dc.contributor.authorАнтонець, Станіслав Юрійовичuk
dc.contributor.authorЩебенюк, Леся Артемівнаuk
dc.contributor.authorГолик, Оксана Вячеславівнаuk
dc.contributor.authorГонтар, Юлія Григорівнаuk
dc.contributor.authorОбозний, Андрій Леонідовичuk
dc.contributor.authorВасильєва, Оксана Володимирівнаuk
dc.date.accessioned2023-02-28T11:36:07Z
dc.date.available2023-02-28T11:36:07Z
dc.date.issued2022
dc.description.abstractУ статті розглянуто аналіз неруйнівного технологічного контролю кількості дефектів в ізоляції емаль-проводу на основі поліімідної ізоляції. Розглянуто застосування статистичного аналізу результатів вимірювання показників контролю за допомогою математичної моделі тренду для їх використання в online-контролі дефектності ізоляції. Запропоновано рекомендації щодо практичного використання параметрів функції тренду для обробки отриманих показників вимірювань. Основними параметрами тренду є припрацювання та період нормального ізолювання впродовж технологічного часу. Теоретично показаний та підтверджений вимірюваннями алгоритм кількісної оцінки тенденції зміни дефектності емаль ізоляції для проводу ПЕЕІДХ2–200 з двошаровою поліімідною ізоляцією впродовж неперервного технологічного циклу. Алгоритм дозволяє за-безпечити прийняття технічних рішень як в режимі реального часу, так і віддаленого аналізу. Наведено дані про чутливість такого підходу до технологічних змін.uk
dc.description.abstractThe article shows the results of non-destructive technological control of the defects number in the enamel insulated wire based on polyimide insulation. The application of statistical analysis of the control indicators measurement results with the help of a mathematical trend model for their use in insulation defects online control is considered. Recommendations for the practical use of the trend function parameters for processing the obtained measurement indicators are offered. The main parameters of the trend are run-in and the period of normal isolation during technological time. Theoretically shown and confirmed by measurements, the algorithm for quantitative assessment of the tendency of enamel insulation defects change for PEEIDH2-200 wire with two-layer polyimide insulation during the inline technological cycle. The algorithm allows for making technical decisions both in real time and remote analysis. Data on the sensitivity of this approach to technological changes are given.en
dc.identifier.citationСтатистичні проблеми динамічного контролю при неруйнівних випробуваннях високою напругою на прохід / С. Ю. Антонець [та ін.] // Вісник Національного технічного університету "ХПІ". Сер. : Проблеми удосконалювання електричних машин і апаратів. Теорія і практика = Bulletin of the National Technical University "KhPI". Ser. : Problems of electrical machines and apparatus perfection. Theory and practice : зб. наук. пр. – Харків : НТУ "ХПІ", 2022. – № 2 (8). – С. 51-56.uk
dc.identifier.doidoi.org/10.20998/2079-3944.2022.2.09
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-4433-7305
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/62850
dc.language.isouk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"uk
dc.subjectемаль-провідuk
dc.subjectполіімідна ізоляціяuk
dc.subjectдефектністьuk
dc.subjectтехнологічний контрольuk
dc.subjectвипробування напругоюuk
dc.subjectenamel wireen
dc.subjectpolyimide insulationen
dc.subjectdefectivenessen
dc.subjecttechnological controlen
dc.subjectvoltage testingen
dc.titleСтатистичні проблеми динамічного контролю при неруйнівних випробуваннях високою напругою на прохідuk
dc.title.alternativeStatistical problems of dynamic control in high voltage non-destructive tests during manufacturingen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
visnyk_KhPI_2022_2_PUEMA_Antonets_Statystychni.pdf
Розмір:
615.43 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: