Розробка методів діагностики дефектів поверхонь методами машинного навчання

Abstract

Дисертація на здобуття наукового ступеня доктора філософії (PhD) за спеціальністю 122 – Комп’ютерні науки. – Національний технічний університет «Харківський політехнічний інститут», Харків, 2025. У дисертаційній роботі вирішено науково-практичне завдання розробки методів та інформаційних технологій для автоматичного виявлення й класифікації типових мікродефектів на плоских дзеркальних поверхнях за їх монохромними інтерференційними картинами, отриманими з використанням мікроінтерферометра Лінніка. Об’єкт дослідження – зображення інтерференційних картин плоских дзеркальних поверхонь, отримані за допомогою мікроінтерферометра Лінніка. Предмет дослідження – моделі, методи та інформаційні технології виявлення та класифікації дефектів на дзеркальних поверхнях за зображеннями їх інтерференційних картин. Мета i задачі дослідження – розробка моделей, методів та інформаційної технології для автоматичного виявлення й класифікації типових мікродефектів плоских дзеркальних поверхонь за монохромними інтерференційними картинами, отриманими з використанням мікроінтерферометра Лінніка. On the rights of the manuscript. Dissertation for obtaining the scientific degree of candidate of 122–Computer Science – National Technical University «Kharkiv Polytechnic Institute», Kharkiv, 2025. The thesis solves the scientific and practical problem of developing methods and information technologies for the automatic detection and classification of typical microdefects on flat mirror surfaces by their monochrome interference patterns obtained using a Linnik microinterferometer. The object of study is the images of interference patterns of flat mirror surfaces obtained using a Linnik microinterferometer. The subject of the study is models, methods and information technologies for detecting and classifying defects on mirror surfaces based on images of their interference patterns. The purpose and objectives of the study are to develop models, methods and information technology for the automatic detection and classification of typical microdefects in flat mirror surfaces based on monochrome interference patterns obtained using a Linnik microinterferometer.