Электроимпедансный метод неразрушающего контроля при диагностике плоских проводящих метериалов

Ескіз

Дата

2014

ORCID

DOI

item.page.thesis.degree.name

item.page.thesis.degree.level

item.page.thesis.degree.discipline

item.page.thesis.degree.department

item.page.thesis.degree.grantor

item.page.thesis.degree.advisor

item.page.thesis.degree.committeeMember

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

НТУ "ХПИ"

Анотація

Рассмотрен метод контроля плоских материалов (пленок, листов) и химических растворов. Данный метод реализуется с помощью набора подводящих линий (проводников), которые лежат в двух параллельных плоскостях и являются ортогональными по отношению друг к другу. На основе данных измерений комплексной проводимости строится график поверхности, который дает возможность обнаружить нарушения и дефекты в структуре исследуемого материала. Построена имитационная модель плоского проводящего материала с помощью программного пакета Multisim. На имитационной модели проводящего материала были поставлены опыты, результаты которых подтвердили действенность рассмотренного метода.
A method of controlling the fully flattened materials (films, sheets) and chemical solutions was learned. This method is implemented by means of a selection of fill lines (conductors) which lie in two parallel planes and are orthogonal to each other. Based upon measurements of the complex conductivity a graph of the surface is constructed, which makes it possible to detect irregularities and defects in the structure of the test material. A simulation model of a flat conductive material using the software pack-age Multisim was constructed. Experiments on a simulation model of the conductive material were made, the results of which confirmed the validity of this method.

Опис

Ключові слова

метод контроля, плоские материалы, имитационная модель, элементарный объем, поверхность, method of controlling, fully flattened materials, simulation model, elementary volume, surface

Бібліографічний опис

Давиденко А. П. Электроимпедансный метод неразрушающего контроля при диагностике плоских проводящих метериалов / А. П. Давиденко, Е. А. Панченко // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Автоматика и приборостроение. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2014. – № 15 (1058). – С. 43-48.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced