Метрологічні аспекти спектрального аналізу напівтонових зображень
Вантажиться...
Дата
Автори
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТУ "ХПІ"
Анотація
Розглянуто існуючі проблеми розробки метрологічного забезпечення при
використанні методів вимірювань, що засновані на реєстрації та спектральному аналізі
зображень. Розроблено методику оцінки точності відтворення просторової частоти у
процедурі спектрального аналізу цифрових напівтонових зображень, отриманих шляхом
сканування.
The existing problems of development of metrological support by using the measurement methods that based on the detection and analysis of spectral images were considered. The method for evaluating the accuracy of spatial frequency reproduction using the procedure of spectrum analysis of digital halftone images obtained by scanning was developed.
The existing problems of development of metrological support by using the measurement methods that based on the detection and analysis of spectral images were considered. The method for evaluating the accuracy of spatial frequency reproduction using the procedure of spectrum analysis of digital halftone images obtained by scanning was developed.
Опис
Бібліографічний опис
Глухова Н. В. Метрологічні аспекти спектрального аналізу напівтонових зображень / Н. В. Глухова // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Темат. вип. : Інформатика та моделювання. – Харків : НТУ "ХПІ". – 2015. – № 33 (1142). – С. 20-27.