Определение точности метода фотоупругости

dc.contributor.authorТесленко, Алексей Алексеевичru
dc.date.accessioned2018-01-18T12:30:26Z
dc.date.available2018-01-18T12:30:26Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractУ роботі розглядається новий метод визначення точності методу фотопружності. Суть методу полягає у використанні модельного засобу визначення точності. Точність визначається у порівнянні початкових (модельних) напружень та визначених у змодельованому засобі вимірювання. У якості початкового (модельного) напруження запропоновано використовувати визначені у реальному експерименті напруження. Досліджена коректність цього засобу дослідження точності.uk
dc.description.abstractNew method of accuracy definition for the method of photoelasticity are examined in work. Essence of a method consist of modelling way of accuracy determination. Accuracy is determined in comparison of initial (modelling) stresses and stresses that determined in the simulated way of measurement. The stresses that determined in real experiment are used as initial (modelling) the stresses. The correctness of this method is investigated.en
dc.identifier.citationТесленко А. А. Определение точности метода фотоупругости / А. А. Тесленко // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Динамика и прочность машин. – Харьков : НТУ "ХПИ", 2008. – № 36. – С. 167-170.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/33978
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectрезультирующие напряженияru
dc.subjectопределение погрешностиru
dc.subjectполе напряженийru
dc.subjectмодельная технологияru
dc.subjectопределение напряженийru
dc.subjectкоэффициент регуляризацииru
dc.titleОпределение точности метода фотоупругостиru
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_KhPI_2008_36_Teslenko_Opredelenie.pdf
Розмір:
236.92 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.21 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:

Колекції