Исследование метрик, используемых при обнаружении клонированных участков изображений в задачах выявления фальсификации

dc.contributor.authorЛебедева, Е. Ю.ru
dc.contributor.authorЛебедев, Ю. Ф.ru
dc.date.accessioned2015-05-21T11:46:23Z
dc.date.available2015-05-21T11:46:23Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractИсследуются метрики для оценки схожести блоков цифрового изображения, используемые в методе обнаружения клонированных участков изображений при выявлении фальсификации. Делаются выводы о целесообразности применения рассмотренных метрик и выборе предпочтительной метрики в условиях рассматриваемой задачи.ru
dc.description.abstractMetrics are investigated for the estimation of blocks similarity of digital image, using in a detection method of the cloned areas of images when exposing the forensics. Drawn conclusion about using expedience of the considered metrics and choice of preferable metric in the conditions of the examined task.en
dc.identifier.citationЛебедева Е. Ю. Исследование метрик, используемых при обнаружении клонированных участков изображений в задачах выявления фальсификации / Е. Ю. Лебедева, Ю. Ф. Лебедев // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Системный анализ, управление и информационные технологии. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2011. – № 35. – С. 25-30.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/14847
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectизображение цифровоеru
dc.subjectпикселизацияru
dc.subjectMean Squared Erroren
dc.subjectкоэффициент корреляцииru
dc.subjectрасстояние Минковскогоru
dc.subjectHistogram Similarityen
dc.titleИсследование метрик, используемых при обнаружении клонированных участков изображений в задачах выявления фальсификацииru
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_HPI_2011_35_Lebedeva_Issledovanie.pdf
Розмір:
327.04 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:

Колекції