Применение методов цифровой обработки изображений для измерений в процессах ОМД

dc.contributor.authorФедосов, А. В.ru
dc.date.accessioned2014-06-19T11:05:30Z
dc.date.available2014-06-19T11:05:30Z
dc.date.issued2013
dc.description.abstractРассмотрены современные бесконтактные методы измерений геометрических параметров объектов в процессе их деформации. Представлен новый метод определения полей деформации в поперечном сечении объекта. Новый метод основан на обработке серии фотоснимков, сделанных в процессе деформации объекта. Рассмотрены основы методов бесконтактного измерения плоскостностиru
dc.description.abstractThe modern non-contact methods of objects’ geometrical parameters measurement in the process of their deformation are considered. A new method for strain fields determining in the cross section of the object is presented. This method is based on processing a series of photos made in the course of object deformation. The fundamentals of methods of flatness contactless measurement are considereden
dc.identifier.citationФедосов А. В. Применение методов цифровой обработки изображений для измерений в процессах ОМД / А. В. Федосов // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Новые решения в современных технологиях. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2013. – № 42. – С. 174-179.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/7401en
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectобработка металлов давлениемru
dc.subjectполе деформацийru
dc.subjectплоскостностьru
dc.subjectточность измеренийru
dc.subjectmetal formingen
dc.subjectstrain fielden
dc.subjectflatnessen
dc.subjectdigital imageen
dc.subjectprecision of measurementen
dc.titleПрименение методов цифровой обработки изображений для измерений в процессах ОМДru
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_HPI_2013_42_Fedosov_Primeneniye.pdf
Розмір:
1006.28 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:

Колекції