Вісник № 10
Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/18996
Переглянути
1 результатів
Результати пошуку
Документ Физико-химические основы процесса получения диоксида кремния из рисовой шелухи(НТУ "ХПИ", 2010) Гриднева, Т. В.; Сорока, П. И.; Тертышный, О. А.Встановлені технологічні параметри процесу та розроблені способи одержання силіцій (ІV) оксиду з рисового лушпиння. Проведені термодинамічні, кінетичні та експериментальні дослідження. На підставі термодинамічного аналізу процесу термічної обробки рисового лушпиння (РЛ) встановлена принципова можливість одержання силіцій (ІV) оксиду з РЛ, температурний інтервал існування максимальної концентрації силіцій (ІV) оксиду. На основі проведених експериментальних досліджень визначені технологічні параметри процесу одержання силіцій (ІV) оксиду.