Вісник № 10

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/18996

Переглянути

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    Документ
    Физико-химические основы процесса получения диоксида кремния из рисовой шелухи
    (НТУ "ХПИ", 2010) Гриднева, Т. В.; Сорока, П. И.; Тертышный, О. А.
    Встановлені технологічні параметри процесу та розроблені способи одержання силіцій (ІV) оксиду з рисового лушпиння. Проведені термодинамічні, кінетичні та експериментальні дослідження. На підставі термодинамічного аналізу процесу термічної обробки рисового лушпиння (РЛ) встановлена принципова можливість одержання силіцій (ІV) оксиду з РЛ, температурний інтервал існування максимальної концентрації силіцій (ІV) оксиду. На основі проведених експериментальних досліджень визначені технологічні параметри процесу одержання силіцій (ІV) оксиду.