Предлагается новый метод оценки пикового рассеивания тепла цифровых схем. Задача сведена к задаче идентификации параметра цифрового устройства. Метод относится к недетерминированным эволюционным алгоритмам. В качестве основы используется метод симуляции отжига построения входных идентифицирующих последовательностей. Выполнена алгоритмическая и программная реализация. Приведены результаты апробации на контрольных схемах из международного каталога.
