Вісник № 27
Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/33446
Переглянути
Документ Анализ динамических потерь мощных IGBT(НТУ "ХПИ", 2017) Wintrich, Arendt; Nicolai, Ulrich; Колпаков, Андрей Ильич; Мысак, Тарас Владимирович; Полищук, С. И.Статья посвящена анализу методик оценки коммутационных потерь в IGBT-модулях различных производителей и разных технологических поколений. Рассмотрены группы основных и дополнительных параметров, и их степень влияния на эти оценки. Показано, что отличия в режимах измерения электрических характеристик IGBT могут приводить к отклонениям от справочных характеристик в реальных режимах эксплуатации модулей. Проанализировано влияние дополнительных параметров на величины динамических потерь, имеющихся в технических спецификациях на полупроводниковые приборы. Приведены результаты экспериментальных исследований.