Кафедра "Електричні апарати"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/43

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/ea

Кафедра "Електричні апарати" була створена в 1931 році при Харківському електротехнічному інституті. Засновником, організатором і першим завідувачем кафедри був видатний фахівець в галузі електротехніки професор Вашура Борис Федорович.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту енергетики, електроніки та електромеханіки Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут", веде підготовку фахівців що мають глибокі знання з електромеханіки та різнобічні знання в області комп’ютерної техніки й інформаційних технологій.

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 2 доктора технічних наук, 6 кандидатів технічних наук, 1 кандидат фізико-математичних наук; 5 співробітників мають звання доцента, 1 – старшого наукового співробітника.

Переглянути

Фільтри

20161

Налаштування

Автор: search.filters.author.Беляев, Виталий КонстантиновичКлючові слова: search.filters.subject.data processing procedure

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    Документ
    Определение диэлектрических параметров изоляции трансформаторов тока при множественных измерениях в системах контроля под рабочим напряжением
    (НТУ "ХПИ", 2016) Беляев, Виталий Константинович; Паненко, Елена Николаевна
    Рассмотрены особенности методик обработки результатов множественных измерений тангенса угла диэлектрических потерь высоковольтной изоляции, основанных на методе сравнения. Проанализированы известные методики определения тангенса потерь с выделением отдельного эталонного объекта и без выделения такого эталона. Получены выражения для определения методических погрешностей. Проведено сравнение и показано, что применение методик обработки без выделения отдельного эталонного объекта может приводить к существенным сложностям в оценке результатов контроля изоляции. Предложены усовершенствования методик обработки, уменьшающие указанные погрешности методик и трудоемкость измерений.