Кафедра "Електричні апарати"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/43

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/ea

Кафедра "Електричні апарати" була створена в 1931 році при Харківському електротехнічному інституті. Засновником, організатором і першим завідувачем кафедри був видатний фахівець в галузі електротехніки професор Вашура Борис Федорович.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту енергетики, електроніки та електромеханіки Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут", веде підготовку фахівців що мають глибокі знання з електромеханіки та різнобічні знання в області комп’ютерної техніки й інформаційних технологій.

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 2 доктора технічних наук, 6 кандидатів технічних наук, 1 кандидат фізико-математичних наук; 5 співробітників мають звання доцента, 1 – старшого наукового співробітника.

Переглянути

Фільтри

2017 - 20192

Налаштування

Автор: search.filters.author.Щебенюк, Леся АртемівнаКлючові слова: search.filters.subject.enameled wire

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 2 з 2
  • Ескіз
    Документ
    Статистична модель контролю стабільності напруги пробою ізоляції в процесі виробництва емальпроводів
    (Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2019) Гурин, Анатолій Григорович; Голик, Оксана Вячеславівна; Золотарьов, Володимир Володимирович; Антонець, Станіслав Юрійович; Щебенюк, Леся Артемівна; Гречко, Олександр Михайлович
    Представлено результати технологічного контролю напруги пробою ізоляції емаль проводу на основі поліімідного полімеру. Розглянуто застосування статистичного аналізу результатів вимірювання показників контролю за допомогою інтервальної статистичної моделі для використання результатів в активному технологічному контролі. Запропоновано рекомендації щодо практичного використання інтервальної статистичної моделі для визначення гарантованого рівня відносної дисперсії контрольованого параметру. Представлена кількісна оцінка відносної дисперсії δ напруги пробою U впродовж тривалого технологічного циклу. Теоретично показана і вимірюваннями підтверджена можливість надійної кількісної оцінки тенденції зміни дефектності емаль ізоляції для проводу ПЭЭИДХ2-200 з двохшаровою поліімідною ізоляцією номінальним діаметром 0,56 мм впродовж тривалого технологічного циклу. Визначення кількісної оцінки тенденції зміни дефектності емаль ізоляції дозволяє також виділити і кількісно оцінити випадкову похибку технологічного процесу – сумарну похибку результатів технологічного контролю, яка є кількісною характеристикою випадкової складової стабільності технологічного процесу. Застосування методів інтервальної статистики дозволяє одержувати достовірні (надійна ймовірність дорівнює одиниці) числові оцінки навіть для окремої серії невеликої кількості вимірів, до яких не ставлять вимоги ні статистичної сталості, ні взаємної незалежності.
  • Ескіз
    Документ
    Статистичні аспекти неруйнівного контролю дефектності поліімідної емальізоляції в умовах виробництва
    (НТУ "ХПІ", 2017) Голик, Оксана В'ячеславівна; Щебенюк, Леся Артемівна
    Представлено результати застосування статистичної моделі тренду до аналізу показників дефектності ізоляції при неруйнівному технологічному контролі емаль проводу на основі поліімідного полімеру в умовах виробництва. Розглянуто застосування цього контролю для використання результатів в активному технологічному контролі. Запропоновано рекомендації щодо практичного використання параметрів функції тренду в технологічному контролі. Параметром тренду є швидкість зменшення (чи збільшення) довжини проводу з заданою дефектністю впродовж технологічного циклу. Теоретично показана і вимірюваннями підтверджена можливість кількісної оцінки тенденції зміни впродовж технологічного циклу дефектності емаль ізоляції для проводу ПЭЭИДХ2-200 з двохшаровою поліімідною ізоляцією номінальним діаметром 0,56 мм. Виділення тенденції зміни дефектності емаль ізоляції впродовж неперервного технологічного циклу і кількісна оцінка цієї тенденції дозволяє кількісно оцінити випадкову похибку технологічного контролю – сумарну похибку результатів технологічного контролю, яка є характеристикою випадкової складової стабільності технологічного контролю і зумовлена багатьма чинниками, впливом кожного з яких можна знехтувати порівняно із сумою.