Кафедра "Електричні апарати"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/43

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/ea

Кафедра "Електричні апарати" була створена в 1931 році при Харківському електротехнічному інституті. Засновником, організатором і першим завідувачем кафедри був видатний фахівець в галузі електротехніки професор Вашура Борис Федорович.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту енергетики, електроніки та електромеханіки Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут", веде підготовку фахівців що мають глибокі знання з електромеханіки та різнобічні знання в області комп’ютерної техніки й інформаційних технологій.

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 2 доктора технічних наук, 6 кандидатів технічних наук, 1 кандидат фізико-математичних наук; 5 співробітників мають звання доцента, 1 – старшого наукового співробітника.

Переглянути

Фільтри

20171

Налаштування

Містить файли: ТакКлючові слова: search.filters.subject.испытания напряжением

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    Документ
    Он-лайн контроль дефектности изоляции в процессе изготовления эмальпроводов
    (НТУ "ХПИ", 2017) Золотарев, Владимир Михайлович; Антонец, Юрий Афанасьевич; Антонец, Станислав Юрьевич; Голик, Оксана Вячеславовна; Щебенюк, Леся Артемовна
    Представлены результаты неразрушающего технологического контроля количества дефектов в изоляции эмаль-провода на основе полиимидного полимера. Рассмотрено применение статистического анализа результатов измерения показателей контроля с помощью математической модели тренда для использования результатов в активном технологическом контроле. Предложены рекомендации для практического использования параметров функции тренда для контроля гарантированного уровня бездефектности изоляции методами статистики предельных значений. Параметром тренда является скорость уменьшения (или увеличения) длины провода с заданной дефектностью в течение технологического цикла. Теоретически показана и подтверждена измерениями возможность количественной оценки тенденции изменения дефектности эмаль изоляции для провода ПЭЭИДХ2 – 200 с двухслойной полиимидной изоляцией номинальным диаметром 0,56 мм в течение технологического цикла. Определение количественной оценки тенденции изменения дефектности эмаль изоляции позволяет также выделить и количественно оценить случайную ошибку технологического процесса – суммарную ошибку результатов технологического контроля, которая является количественной характеристикой случайной составляющей стабильности технологического процесса и обусловлена большим количеством причин, каждой из которых можно пренебречь по сравнению с суммой.