Вісник № 03

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/10710

Переглянути

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    Документ
    Обоснование оптимального браковочного уровня tgδ для тарельчатых фарфоровых изоляторов
    (НТУ "ХПИ", 2011) Ким, Ен Дар; Таран, В. Н.
    Показана корреляционная зависимость между уровнем дефектных изоляторов в эксплуатации и распределением величины tgδ изоляторов. Представлены критерии определения оптимального уровня tgδ для браковки дефектных изоляторов. Приведен алгоритм оценки состояния изоляторов в эксплуатации.