Кафедри
Постійне посилання на розділhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/35393
Переглянути
9 результатів
Результати пошуку
Документ Светодиодно-галогеновый осветитель(Сумський державний університет, 2015) Полежаева, О. В.; Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил ВалерьевичДокумент Компьютеризированный измерительный комплекс вольт-амперных характеристик(Національний університет кораблебудування ім. адмірала Макарова, 2015) Прокопенко, Дмитрий Сергеевич; Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил ВалерьевичДокумент Антиотражающие наноструктурированные массивы оксида цинка, изготовленные методом импульсного электроосаждения(Наука, 2015) Клочко, Наталья Петровна; Клепикова, Екатерина Сергеевна; Хрипунов, Геннадий Семенович; Волкова, Неонила Дмитриевна; Копач, Владимир Романович; Любов, Виктор Николаевич; Кириченко, Михаил Валерьевич; Копач, А. В.С целью создания антиотражающих покрытий для солнечных элементов исследованы условия импульсного электрохимического осаждения из водных электролитов наноструктурированных массивов оксида цинка с определенными морфологией, кристаллической структурой и оптическими свойствами на подложках из прозрачного электропроводного диоксида олова и на пластинах монокристаллического кремния со встроенными гомопереходами. Показана возможность получения планарных однослойных антиотражающих покрытий или массивов наностержней этого материала, как имеющих форму шестигранных призм, так и демонстрирующих эффект глаза ночной бабочки.Документ Автоматизированный измерительный комплекс вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов(Пермский национальный исследовательский политехнический университет, 2015) Прокопенко, Дмитрий Сергеевич; Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил ВалерьевичДокумент Создание и апробация автоматизированного комплекса для измерения вольт-амперных характеристик(Вінницький національний технічний університет, 2014) Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил ВалерьевичДокумент Фазовые превращения при металлизации Ag−In и сращивании вертикальных диодных ячеек многопереходных солнечных элементов(Наука, 2013) Клочко, Наталья Петровна; Хрипунов, Геннадий Семенович; Волкова, Неонила Дмитриевна; Копач, Владимир Романович; Любов, Виктор Николаевич; Кириченко, Михаил Валерьевич; Момотенко, Александра Витальевна; Харченко, Н. М.; Никитин, В. А.Исследованы условия сращивания кремниевых многопереходных солнечных элементов с вертикальными p−n-переходами с помощью припоя системы Ag−In. Изучались композиции из электроосажденных пленок индия на посеребренных методом трафаретной печати кремниевых пластинах и изготовленные путем послойного электрохимического осаждения пленки серебра и индия на поверхности посеребренных в вакууме кремниевых вертикальных диодных ячеек. Исследование условий электрохимического осаждения, структуры и морфологии поверхности полученных слоев показало, что для гарантированного сращивания допустимо использование 8-минутной термообработки при 400◦C под давлением стопки металлизированных кремниевых пластин, однако соотношение толщин слоев индия и серебра не должно превышать 1 : 3. При выполнении данного условия припой после сращивания пластин имеет структуру InAg3 (или InAg3 с примесью фазы Ag), благодаря чему температура плавления спая превышает 700◦C, что гарантированно обеспечивает функционирование таких солнечных элементов в условиях концентрированного освещения.Документ Разработка системы автоматизации измерений параметров полупроводниковых приборов(Чернігівський національний технологічний університет, 2015) Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил ВалерьевичОсновным методом определения параметров полупроводниковых приборов является метод измерения и аналитической обработки их вольтамперных характеристик (ВАХ). Существующие на сегодняшний день измерительные комплексы для реализации этого метода представляют собой дорогие и сложные системы, которые экономически не выгодно использовать в условиях отечественного производства. В работе разработан экономичный автоматизированный измерительный комплекс ВАХ на основе микроконтроллерной системы управления с соответствующим программным обеспечением, позволяющий в связке с компьютером проводить экспрессную аттестацию фотоэлектрических преобразователей и полупроводниковых приборов по их вольтамперным характеристикам. Апробация комплекса показала его способность проводить измерения ВАХ с достаточно высокой точностью при средней погрешности измерения не больше 1 %.Документ Импульсный светодиодный осветитель для исследования времени жизни носителей заряда(Національний університет цивільного захисту України, 2015) Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил ВалерьевичДокумент Импульсный светодиодный осветитель для исследования времени жизни носителей заряда(Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2015) Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил Валерьевич; Иванов, А.; Лоботенко, Д. С.