Кафедри
Постійне посилання на розділhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/35393
Переглянути
2 результатів
Результати пошуку
Документ Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции(Национальный научный центр "Харьковский физико-технический институт", 2013) Михайлов, Игорь Федорович; Батурин, Алексей Анатольевич; Михайлов, Антон Игоревич; Фомина, Лариса ПетровнаРазработан метод анализа материалов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции. На примере стандартных образцов низколегированных сталей показано, что специально рассчитанная рентгенооптическая схема с вторичной мишенью позволяет уменьшить до Х = 5…6 мм расстояние от образца до детектора и получить структурные отражения контролируемых фаз (цементита и феррита) в участках рентгенофлуоресцентного спектра, свободных от аналитических линий исследуемого образца. Это дает возможность производить количественный фазовый анализ содержания цементита (Fe3C) по интенсивности структурных отражений, а по его результатам определять содержание углерода в стали. Все остальные элементы определяются по интенсивности линий флуоресценции, при этом за счет малого расстояния Х пределы обнаружения легких элементов в сталях, бронзах и алюминиевых сплавах, полученные на портативном безвакуумном анализаторе, близки к значениям для мощных вакуумных приборов РФА.Документ Источник монохроматического рентгеновского излучения на основе двухступенчатого вторичного излучателя(Национальный научный центр "Харьковский физико-технический институт", 2012) Мамалуй, Андрей Александрович; Батурин, Алексей Анатольевич; Михайлов, Антон ИгоревичТеоретически рассчитан и экспериментально разработан источник монохроматического рентгеновского излучения на основе двухступенчатого вторичного излучателя Mo-Cu (secondary target) для трубок с анодом прострельного типа. Экспериментально исследованы диаграмма направленности и контрастность спектра выходящего излучения. Установлено, что двухступенчатый вторичный излучатель позволяет получить 20…50-кратный выигрыш в контрастности выходящего спектра по сравнению с одноступенчатым. Спектры рентгеновской флуоресценции стандартного образца алюминиевого сплава (СО1 AL), полученные с помощью двухступенчатого вторичного излучателя, по контрастности в 6 раз превосходят схему с фильтрацией первичного излучения и в 2 раза – схему с одноступенчатым вторичным излучателем.