Розділи та колекції

Пошук за критеріями

Статистика

English
Українська

Новий користувач? Зареєструйтесь.Забули пароль?

Головна
Кафедри

Кафедри

Постійне посилання на розділhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/35393

Переглянути

Пошук Підрозділи та колекції За датою За автором За назвою За ключовими словами За предметною катагорією

1 результатів

Фільтри

search.filters.author.Devizenko, A. Y.

1 search.filters.author.Chumak, V. S.

1 search.filters.author.Pershyn, Yuriy P.

1 search.filters.author.Reshetnyak, M. V.

1 search.filters.author.Shipkova, I. G.

Пошук за іменем автора

1 search.filters.subject.amorphous structure

1 search.filters.subject.diffraction methods

1 search.filters.subject.interlayer thickness

1 search.filters.subject.TEM

1 search.filters.subject.transmission electron microscopy

Детальніше

Пошук за ключовими словами

Початок

Кінець

Налаштування

Сортувати за

Результатів на сторінку

Автор: search.filters.author.Devizenko, A. Y.×

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 1 з 1

Estimation of interlayer composition in WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) at nanometer scale
(НТУ "ХПІ", 2016) Shipkova, I. G.; Chumak, V. S.; Reshetnyak, M. V.; Devizenko, A. Y.; Pershyn, Yuriy P.

DSpace software copyright © 2002-2024 LYRASIS

Цей контент доступний на умовах ліцензії Creative Commons «Attribution-NonCommercial» 4.0 Всесвітня .

Зворотній зв'язок